An Efficient Test Strategy for Detection of Electromigration Impact in Advanced FinFET Memories
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-66546-270-9 ISSN: 2378-2250 KITopen-ID: 1000155243 |
| Erschienen in | 2022 IEEE International Test Conference (ITC) |
| Veranstaltung | IEEE International Test Conference (ITC 2022), Anaheim, CA, USA, 23.09.2022 – 30.09.2022 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 650–655 |
| Serie | Proceedings - International Test Conference |
| Vorab online veröffentlicht am | 26.12.2022 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |