Minimal Cost Device Calibration in Spectral Analysis via Meta Learning: Towards Efficient Deployment of Deep Neural Networks in Industry
Xie, Xiang 1; Jin, Muen
2; Chu, Anqi 1; Stork, Wilhelm 1
1 Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2; Chu, Anqi 1; Stork, Wilhelm 11 Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-66548-045-1 KITopen-ID: 1000155437 |
| Erschienen in | IEEE International Conference on Big Data (Big Data), Osaka, Japan, 17th-20th December 2022 |
| Veranstaltung | IEEE International Conference on Big Data (IEEE Big Data 2022), Ōsaka, Japan, 17.12.2022 – 20.12.2022 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 2123–2132 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |