Transmission-Electron-Microscopy-Generated Atomic Defects in Two-Dimensional Nanosheets and Their Integration in Devices for Electronic and Optical Sensing

Quincke, Moritz; Lehnert, Tibor; Keren, Itai; Moses Badlyan, Narine; Port, Fabian; Goncalves, Manuel; Mohn, Michael J.; Maultzsch, Janina; Steinberg, Hadar; Kaiser, Ute

doi:10.1021/acsanm.2c02491

Transmission-Electron-Microscopy-Generated Atomic Defects in Two-Dimensional Nanosheets and Their Integration in Devices for Electronic and Optical Sensing

Quincke, Moritz ; Lehnert, Tibor ¹; Keren, Itai; Moses Badlyan, Narine; Port, Fabian; Goncalves, Manuel; Mohn, Michael J.; Maultzsch, Janina; Steinberg, Hadar; Kaiser, Ute
¹ Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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DOI: 10.1021/acsanm.2c02491

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsdatum	26.08.2022
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 2574-0970 KITopen-ID: 1000155540
Erschienen in	ACS Applied Nano Materials
Verlag	American Chemical Society (ACS)
Band	5
Heft	8
Seiten	11429–11436
Vorab online veröffentlicht am	15.08.2022
Nachgewiesen in	OpenAlex Web of Science Scopus Dimensions

Repository KITopen

Transmission-Electron-Microscopy-Generated Atomic Defects in Two-Dimensional Nanosheets and Their Integration in Devices for Electronic and Optical Sensing