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Process Model for the Data-driven Identification of Machine Function Usage for the Reduction of Machine Variants

Wagenmann, S. 1; Krause, A.; Rapp, S. 1; Hunemeyer, S.; Albers, A. 1; Bursac, N.
1 Institut für Produktentwicklung (IPEK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IEEM55944.2022.9989909
Dimensions
Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2022
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-66548-687-3
ISSN: 2157-3611
KITopen-ID: 1000155628
Erschienen in 2022 IEEE International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management (IEEM)
Veranstaltung IEEE International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management (2022), Kuala Lumpur, Malaysia, 07.12.2022 – 10.12.2022
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 0444–0451
Serie IEEE International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management
Vorab online veröffentlicht am 26.12.2022
Nachgewiesen in Scopus
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