KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Vibration Data Analysis for Fault Detection in Manufacturing Systems - A Systematic Literature Review

Lorenz, Aske ; Siewertsen, Bende; Kyhe Clemmensen, Victor; Blaamann Petersen, Josephine; Friederich, Jonas; Lazarova-Molnar, Sanja ORCID iD icon 1
1 Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2023
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-66540-984-1
ISSN: 2158-2297
KITopen-ID: 1000155908
Erschienen in 2022 IEEE 17th Conference on Industrial Electronics and Applications (ICIEA)
Veranstaltung 17th IEEE Conference on Industrial Electronics and Applications (ICIEA 2022), Chengdu, China, 16.12.2022 – 19.12.2022
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 851–857
Serie IEEE Conference on Industrial Electronics and Applications (Online)
Vorab online veröffentlicht am 12.01.2023
Nachgewiesen in Dimensions
Scopus

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ICIEA54703.2022.10006127
Scopus
Zitationen: 3
Dimensions
Zitationen: 2
Seitenaufrufe: 60
seit 16.02.2023
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page