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Accessing topological feature of polycrystalline microstructure using object detection technique

Venkatanarayanan, Mridhula; Kubendran Amos, P. G. 1
1 Institut für Angewandte Materialien – Mikrostruktur-Modellierung und Simulation (IAM-MMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.mtla.2023.101697
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Mikrostruktur-Modellierung und Simulation (IAM-MMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 03.2023
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2589-1529
KITopen-ID: 1000155951
Erschienen in Materialia
Verlag Elsevier
Band 27
Seiten 101697
Vorab online veröffentlicht am 30.01.2023
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