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Technology Assessment in a Globalized World – Facing the Challenges of Transnational Technology Governance

Hennen, Leonhard [Hrsg.]; Hahn, Julia [Hrsg.]; Ladikas, Miltos [Hrsg.] ORCID iD icon 1; Lindner, Ralf [Hrsg.]; Peissl, Walter [Hrsg.]; van Est, Rinie [Hrsg.]
1 Institut für Technikfolgenabschätzung und Systemanalyse (ITAS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000156261
Veröffentlicht am 24.02.2023
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/978-3-031-10617-0
Scopus
Zitationen: 3
Dimensions
Zitationen: 3
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technikfolgenabschätzung und Systemanalyse (ITAS)
Publikationstyp Buch
Publikationsjahr 2023
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-031-10617-0
KITopen-ID: 1000156261
HGF-Programm 46.24.02 (POF IV, LK 01) Conceptual and Methodological Research
Verlag Springer International Publishing
Nachgewiesen in Dimensions
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