Technology Assessment in a Globalized World – Facing the Challenges of Transnational Technology Governance
Hennen, Leonhard [Hrsg.]; Hahn, Julia [Hrsg.]; Ladikas, Miltos [Hrsg.]
1; Lindner, Ralf [Hrsg.]; Peissl, Walter [Hrsg.]; van Est, Rinie [Hrsg.]
1 Institut für Technikfolgenabschätzung und Systemanalyse (ITAS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Lindner, Ralf [Hrsg.]; Peissl, Walter [Hrsg.]; van Est, Rinie [Hrsg.]1 Institut für Technikfolgenabschätzung und Systemanalyse (ITAS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technikfolgenabschätzung und Systemanalyse (ITAS) |
| Publikationstyp | Buch |
| Publikationsjahr | 2023 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-031-10617-0 KITopen-ID: 1000156261 |
| HGF-Programm | 46.24.02 (POF IV, LK 01) Conceptual and Methodological Research |
| Verlag | Springer International Publishing |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |