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Measuring Overfitting in Convolutional Neural Networks using Adversarial Perturbations and Label Noise

Pavlitskaya, Svetlana; Oswald, Joel; Zöllner, J. Marius 1
1 Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB)
Publikationstyp Forschungsbericht/Preprint
Publikationsjahr 2022
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000156285
Umfang 9 S.
Vorab online veröffentlicht am 27.09.2022
Nachgewiesen in arXiv
Dimensions
Relationen in KITopen
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