KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Retroreflex ellipsometry for isotropic three-phase systems with nonplanar surfaces

Chen, Chia-Wei 1; Hartrumpf, Matthias; Längle, Thomas; Beyerer, Jürgen 1
1 Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Download
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.tsf.2023.139732
Scopus
Zitationen: 1
Dimensions
Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 03.2023
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0040-6090, 1879-2731
KITopen-ID: 1000156331
Erschienen in Thin Solid Films
Verlag Elsevier
Band 769
Seiten Art.-Nr.: 139732
Vorab online veröffentlicht am 10.02.2023
Nachgewiesen in Web of Science
Dimensions
Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page