Onset of Mechanical Degradation due to Transverse Compressive Stress in Nb$_3$Sn Rutherford-Type Cables
Puthran, K.; Barth, C.; Ballarino, A.; Devred, A.; Arndt, T.
1
1 Institut für Technische Physik (ITEP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
11 Institut für Technische Physik (ITEP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Physik (ITEP) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2023 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1051-8223, 1558-2515, 2378-7074 KITopen-ID: 1000156353 |
| Erschienen in | IEEE Transactions on Applied Superconductivity |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 33 |
| Heft | 5 |
| Seiten | 1–6 |
| Vorab online veröffentlicht am | 01.02.2023 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |