Automatic Test Pattern Generation and Compaction for Deep Neural Networks
Moussa, Dina 1; Hefenbrock, Michael 2; Münch, Christopher
1; Tahoori, Mehdi 3
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Telematik (TM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Tahoori, Mehdi 31 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Telematik (TM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) Institut für Telematik (TM) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 16.01.2023 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4503-9783-4 KITopen-ID: 1000156388 |
| Erschienen in | Proceedings of the 28th Asia and South Pacific Design Automation Conference. 28th Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC 2023) Tokio, Japan, 16.01.2023–19.01.2023 |
| Veranstaltung | 28th Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC 2023), Tokio, Japan, 16.01.2023 – 19.01.2023 |
| Verlag | Association for Computing Machinery (ACM) |
| Seiten | 436–441 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |