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Observability analysis and robust observer design for a continuous yeast culture

Jerono, Pascal; Schaum, Alexander ; Meurer, Thomas ORCID iD icon


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.jprocont.2021.05.012
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Zitationen: 6
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Zitationen: 5
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Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 08.2021
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0959-1524, 1873-2771
KITopen-ID: 1000156627
Erschienen in Journal of Process Control
Verlag Elsevier
Band 104
Seiten 62–73
Vorab online veröffentlicht am 23.06.2021
Nachgewiesen in Web of Science
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