Observability analysis and robust observer design for a continuous yeast culture
Jerono, Pascal; Schaum, Alexander ; Meurer, Thomas
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 08.2021 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0959-1524, 1873-2771 KITopen-ID: 1000156627 |
| Erschienen in | Journal of Process Control |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 104 |
| Seiten | 62–73 |
| Vorab online veröffentlicht am | 23.06.2021 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Dimensions Scopus |