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Observer Design for the Droop Model with Biased Measurement: Application to Haematococcus Pluvialis

Jerono, Pascal; Schaum, Alexander; Meurer, Thomas ORCID iD icon


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/CDC.2018.8619063
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Zitationen: 8
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Zitationen: 7
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-1395-5
ISSN: 0743-1546
KITopen-ID: 1000156628
Erschienen in 2018 IEEE Conference on Decision and Control (CDC)
Veranstaltung 57th IEEE Conference on Decision and Control (CDC 2018), Miami, FL, USA, 17.12.2018 – 19.12.2018
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 6295–6300
Serie Proceedings of the IEEE Conference on Decision & Control
Vorab online veröffentlicht am 20.01.2019
Nachgewiesen in Scopus
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