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Randomness is the Root of All Evil: More Reliable Evaluation of Deep Active Learning

Ji, Yilin 1; Kaestner, Daniel 1; Wirth, Oliver 1; Wressnegger, Christian ORCID iD icon 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/WACV56688.2023.00393
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Zitationen: 6
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Zitationen: 7
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Informationssicherheit und Verlässlichkeit (KASTEL)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 01.2023
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-66549-346-8
KITopen-ID: 1000157103
HGF-Programm 46.23.04 (POF IV, LK 01) Engineering Security for Production Systems
Erschienen in 2023 IEEE/CVF Winter Conference on Applications of Computer Vision (WACV)
Veranstaltung IEEE/CVF Winter Conference on Applications of Computer Vision (WACV 2023), Waikoloa, HI, USA, 03.01.2023 – 07.01.2023
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 3932–3941
Nachgewiesen in Scopus
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