Randomness is the Root of All Evil: More Reliable Evaluation of Deep Active Learning
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Informationssicherheit und Verlässlichkeit (KASTEL) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsmonat/-jahr | 01.2023 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-66549-346-8 KITopen-ID: 1000157103 |
| HGF-Programm | 46.23.04 (POF IV, LK 01) Engineering Security for Production Systems |
| Erschienen in | 2023 IEEE/CVF Winter Conference on Applications of Computer Vision (WACV) |
| Veranstaltung | IEEE/CVF Winter Conference on Applications of Computer Vision (WACV 2023), Waikoloa, HI, USA, 03.01.2023 – 07.01.2023 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 3932–3941 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |