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Accuracy evaluation of a new 3D photogrammetric position measurement system for 6D Printing

Garcia-Barth, Luis; Bielke, Uwe; Börret, Rainer


Zugehörige Institution(en) am KIT Lichttechnisches Institut (LTI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 08.03.2023
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-1-5106-5962-9
ISSN: 0277-786X
KITopen-ID: 1000157131
Erschienen in Photonic Instrumentation Engineering X
Veranstaltung SPIE Photonics West OPTO (SPIE OPTO 2023), San Francisco, CA, USA, 28.01.2023 – 02.02.2023
Verlag SPIE
Serie Proceedings of SPIE ; 12428
Nachgewiesen in Scopus
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