Siamese Basis Function Networks for Data-Efficient Defect Classification in Technical Domains
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktionstechnik (WBK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2023 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-031-26236-4 ISSN: 0302-9743, 1611-3349 KITopen-ID: 1000158018 |
| Erschienen in | Software Engineering and Formal Methods. SEFM 2022 Collocated Workshops – AI4EA, F-IDE, CoSim-CPS, CIFMA, Berlin, Germany, September 26–30, 2022, Revised Selected Papers. Ed.: P. Masci |
| Veranstaltung | 20th International Conference on Software Engineering and Formal Methods (SEFM 2022), Berlin, Deutschland, 26.09.2022 – 30.09.2022 |
| Verlag | Springer International Publishing |
| Seiten | 71–92 |
| Serie | Lecture Notes in Computer Science (LNCS) ; 13765 |
| Vorab online veröffentlicht am | 11.02.2023 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |
| Relationen in KITopen |