SiFI-AI: A Fast and Flexible RTL Fault Simulation Framework Tailored for AI Models and Accelerators
Hoefer, Julian
1; Kempf, Fabian 2; Hotfilter, Tim
1; Kreß, Fabian
1; Harbaum, Tanja
1; Becker, Jürgen 2
1 Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Kempf, Fabian 2; Hotfilter, Tim
1; Kreß, Fabian
1; Harbaum, Tanja
1; Becker, Jürgen 21 Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 05.06.2023 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-84-00-70125-2 KITopen-ID: 1000159315 |
| Erschienen in | Proceedings of the Great Lakes Symposium on VLSI 2023 |
| Veranstaltung | 33rd Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI 2023), Knoxville, TN, USA, 05.06.2023 – 07.06.2023 |
| Verlag | Association for Computing Machinery (ACM) |
| Seiten | 287–292 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |