Fault-tolerant Neuromorphic Computing with Memristors Using Functional ATPG for Efficient Re-calibration
Ahmed, Soyed Tuhin
1; Tahoori, Mehdi B. 1
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Tahoori, Mehdi B. 11 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2023 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2168-2356, 2168-2364 KITopen-ID: 1000159432 |
| Erschienen in | IEEE Design and Test |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 40 |
| Heft | 4 |
| Seiten | 42-50 |
| Vorab online veröffentlicht am | 03.05.2023 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |