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E-Assessment-Plattform für die grafische Modellierung

Ullrich, Meike ORCID iD icon 1; Pfeiffer, Peter; Schiefer, Gunther ORCID iD icon 1; Soyka, Chantal; Stottrop, Tobias; Striewe, Michael; Fettke, Peter; Loos, Peter; Oberweis, Andreas ORCID iD icon 1; Schaper, Niclas
1 Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2022
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-88579-716-6
ISSN: 1617-5468
KITopen-ID: 1000159598
Erschienen in 20. Fachtagung Bildungstechnologien (DELFI), Lecture Notes in Informatics (LNI), Gesellschaft für Informatik, Bonn 2022. Hrsg.: P. Henning
Veranstaltung 20. Fachtagung Bildungstechnologien der GI Fachgruppe Bildungstechnologien (DELFI 2022), Karlsruhe, Deutschland, 12.09.2022 – 14.09.2022
Verlag Gesellschaft für Informatik (GI)
Seiten 247-248
Serie Lecture Notes in Informatics (LNI) : Proceedings Series of the Gesellschaft für Informatik (GI) ; P-322
Projektinformation KEA-Mod (BMBF, BMBF HIGHTEC, 16DHB3022)
Schlagwörter E-Assessment, Modellierung, UML, BPMN, EPK, Petri-Netze

Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000159598
Veröffentlicht am 26.06.2023
Originalveröffentlichung
DOI: 10.18420/delfi2022-053
Seitenaufrufe: 75
seit 27.06.2023
Downloads: 64
seit 12.07.2023
Cover der Publikation
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