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E-Assessment-Plattform für die grafische Modellierung

Ullrich, Meike ORCID iD icon 1; Pfeiffer, Peter; Schiefer, Gunther ORCID iD icon 1; Soyka, Chantal; Stottrop, Tobias; Striewe, Michael; Fettke, Peter; Loos, Peter; Oberweis, Andreas ORCID iD icon 1; Schaper, Niclas
1 Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000159598
Veröffentlicht am 26.06.2023
Originalveröffentlichung
DOI: 10.18420/delfi2022-053
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2022
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-88579-716-6
ISSN: 1617-5468
KITopen-ID: 1000159598
Erschienen in 20. Fachtagung Bildungstechnologien (DELFI), Lecture Notes in Informatics (LNI), Gesellschaft für Informatik, Bonn 2022. Hrsg.: P. Henning
Veranstaltung 20. Fachtagung Bildungstechnologien der GI Fachgruppe Bildungstechnologien (DELFI 2022), Karlsruhe, Deutschland, 12.09.2022 – 14.09.2022
Verlag Gesellschaft für Informatik (GI)
Seiten 247-248
Serie Lecture Notes in Informatics (LNI) : Proceedings Series of the Gesellschaft für Informatik (GI) ; P-322
Projektinformation KEA-Mod (BMBF, BMBF HIGHTEC, 16DHB3022)
Schlagwörter E-Assessment, Modellierung, UML, BPMN, EPK, Petri-Netze
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