Robustifizierung und Informationsmetriken der modellgestützten Versuchsplanung
Schenkendorf, R.; Xie, X.; Krewer, U.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Elektrochemische Technologien (IAM-ET1) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 09.2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0009-286X, 1522-2640 KITopen-ID: 1000159815 |
| Erschienen in | Chemie Ingenieur Technik |
| Verlag | Wiley-VCH Verlag |
| Band | 90 |
| Heft | 9 |
| Seiten | 1234–1235 |
| Vorab online veröffentlicht am | 24.08.2018 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |