Parabolic gratings enhance the X-ray sensitivity of Talbot interferograms

Zangi, Pouria; Ikematsu, Katsumasa; Meyer, Pascal; Takano, Hidekazu; Wu, Yanlin; Gutekunst, Josephine; Börner, Martin; Last, Arndt; Korvink, Jan G.; Momose, Atsushi

doi:10.21203/rs.3.rs-2535306/v1

Parabolic gratings enhance the X-ray sensitivity of Talbot interferograms

Zangi, Pouria ¹; Ikematsu, Katsumasa; Meyer, Pascal ¹; Takano, Hidekazu; Wu, Yanlin; Gutekunst, Josephine ¹; Börner, Martin ¹; Last, Arndt ¹; Korvink, Jan G. ¹; Momose, Atsushi
¹ Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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DOI: 10.5445/IR/1000159960

Veröffentlicht am 30.06.2023

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Forschungsbericht/Preprint
Publikationsjahr	2023
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 1000159960
Verlag	Research Square
Umfang	14 S.
Vorab online veröffentlicht am	06.02.2023
Schlagwörter	KNMF-Technologien: E-Beam, XRL
Nachgewiesen in	Dimensions
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