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Inelastic mean-free path and mean escape depth of 10–140 eV electrons in SiO$_2$ nanoparticles determined by Si 2p photoelectron yields

Antonsson, E.; Gerke, F.; Langer, B.; Goroncy, C.; Dresch, T. 1; Leisner, T. ORCID iD icon 1; Graf, C.; Rühl, E.
1 Institut für Meteorologie und Klimaforschung Atmosphärische Aerosolforschung (IMKAAF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1039/D3CP01284K
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Meteorologie und Klimaforschung Atmosphärische Aerosolforschung (IMKAAF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsdatum 14.06.2023
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1463-9076, 1463-9084
KITopen-ID: 1000160024
HGF-Programm 12.11.12 (POF IV, LK 01) Atmospheric chemistry processes
Erschienen in Physical Chemistry Chemical Physics
Verlag Royal Society of Chemistry (RSC)
Band 25
Heft 22
Seiten 15173–15182
Vorab online veröffentlicht am 16.05.2023
Nachgewiesen in Scopus
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