Inelastic mean-free path and mean escape depth of 10–140 eV electrons in SiO$_2$ nanoparticles determined by Si 2p photoelectron yields
Antonsson, E.; Gerke, F.; Langer, B.; Goroncy, C.; Dresch, T. 1; Leisner, T.
1; Graf, C.; Rühl, E.
1 Aerosolforschung (IMKAAF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Graf, C.; Rühl, E.1 Aerosolforschung (IMKAAF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Aerosolforschung (IMKAAF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsdatum | 14.06.2023 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1463-9076, 1463-9084 KITopen-ID: 1000160024 |
| HGF-Programm | 12.11.12 (POF IV, LK 01) Atmospheric chemistry processes |
| Erschienen in | Physical Chemistry Chemical Physics |
| Verlag | Royal Society of Chemistry (RSC) |
| Band | 25 |
| Heft | 22 |
| Seiten | 15173–15182 |
| Vorab online veröffentlicht am | 16.05.2023 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |