A Low Overhead Checksum Technique for Error Correction in Memristive Crossbar for Deep Learning Applications
Hemaram, Surendra 1; Ahmed, Soyed Tuhin
1; Mayahinia, Mahta 1; Münch, Christopher
1; Tahoori, Mehdi B. 2
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Mayahinia, Mahta 1; Münch, Christopher
1; Tahoori, Mehdi B. 21 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 24.04.2023 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-8-3503-4631-2 KITopen-ID: 1000160274 |
| Erschienen in | 2023 IEEE 41st VLSI Test Symposium (VTS), San Diego, CA, USA, 24-26 April 2023 |
| Veranstaltung | 41st IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2023), San Diego, CA, USA, 24.04.2023 – 26.04.2023 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1–7 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |