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Binary Bayesian Neural Networks for Efficient Uncertainty Estimation Leveraging Inherent Stochasticity of Spintronic Devices

Tuhin Ahmed, Soyed ORCID iD icon 1; Danouchi, Kamal; Münch, Christopher ORCID iD icon 1; Prenat, Guillaume; Lorena, Anghel; B. Tahoori, Mehdi 1
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1145/3565478.3572536
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Zitationen: 1
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Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2023
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4503-9938-8
KITopen-ID: 1000160529
Erschienen in NANOARCH '22: Proceedings of the 17th ACM International Symposium on Nanoscale Architectures
Veranstaltung 17th ACM International Symposium on Nanoscale Architectures (2022), Online, 07.12.2022 – 09.12.2022
Verlag Association for Computing Machinery (ACM)
Seiten 1–6
Vorab online veröffentlicht am 31.05.2023
Nachgewiesen in Dimensions
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