Phase-field modelling of electromigration-induced intergranular slit propagation in metal interconnects
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Mikrostruktur-Modellierung und Simulation (IAM-MMS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 09.2023 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0927-0256 KITopen-ID: 1000160554 |
| HGF-Programm | 38.04.04 (POF IV, LK 01) Geoenergy |
| Erschienen in | Computational Materials Science |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 228 |
| Seiten | Art.-Nr.: 112330 |
| Vorab online veröffentlicht am | 22.06.2023 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Web of Science Scopus |