On-Chip Quantization-and Correlation-Robust Jitter Measurement for Low Phase Noise and High Frequency Oscillators

Schramm, Lukas; Baumgartner, Peter; Aghassi-Hagmann, Jasmin

¹
¹ Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Postprint

DOI: 10.5445/IR/1000160652

Veröffentlicht am 08.12.2023

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCSII.2023.3282817

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr	11.2023
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 1549-7747, 1057-7130, 1558-125X, 1558-3791 KITopen-ID: 1000160652
HGF-Programm	43.31.02 (POF IV, LK 01) Devices and Applications
Erschienen in	IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs
Verlag	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band	70
Heft	11
Seiten	3958-3962
Vorab online veröffentlicht am	05.06.2023
Nachgewiesen in	Dimensions Scopus Web of Science