On-Chip Quantization-and Correlation-Robust Jitter Measurement for Low Phase Noise and High Frequency Oscillators
Schramm, Lukas; Baumgartner, Peter; Aghassi-Hagmann, Jasmin
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1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
11 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 11.2023 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1549-7747, 1057-7130, 1558-125X, 1558-3791 KITopen-ID: 1000160652 |
| HGF-Programm | 43.31.02 (POF IV, LK 01) Devices and Applications |
| Erschienen in | IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 70 |
| Heft | 11 |
| Seiten | 3958-3962 |
| Vorab online veröffentlicht am | 05.06.2023 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |