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Fabrication of Nb/Al-AlO$_x$/Nb Josephson tunnel junctions for cryogenic detector readout

Wegner, Mathias ORCID iD icon 1; Bauer, Fabienne 2; Neidig, Martin 2; Schuster, Constantin ORCID iD icon 2; Enss, Christian; Kempf, Sebastian 2
1 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Poster
Publikationsdatum 27.07.2023
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000160815
HGF-Programm 54.12.01 (POF IV, LK 01) Detection and Measurement
Veranstaltung 20th International Conference on Low Temperature Detectors (LTD20 2023), Daejeon, Südkorea, 23.07.2023 – 28.07.2023
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