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Stress–strain parameter prediction method for AWJ technology from surface topography

Valíček, Jan; Harničárová, Marta; Kušnerová, Milena; Palková, Zuzana; Kopal, Ivan; Borzan, Cristina; Czán, Andrej; Mikuš, Rastislav; Kadnár, Milan; Duer, Stanislaw; Šepelák, Vladimír ORCID iD icon 1
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000160868
Veröffentlicht am 24.07.2023
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 07.2023
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0268-3768, 1433-3015
KITopen-ID: 1000160868
HGF-Programm 43.31.01 (POF IV, LK 01) Multifunctionality Molecular Design & Material Architecture
Erschienen in The International Journal of Advanced Manufacturing Technology
Verlag Springer
Band 127
Heft 5-6
Seiten 2617–2635
Vorab online veröffentlicht am 05.06.2023
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