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Addressing Bias in Fine-Grained Classification Datasets: A Strategy for Reliable Evaluation

Wolf, Stefan ORCID iD icon 1; Koch, Jannik; Sommer, Lars; Beyerer, Jürgen 1
1 Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ICPRS58416.2023.10179055
Dimensions
Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2023
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 979-83-503-3337-4
KITopen-ID: 1000161686
Erschienen in 2023 IEEE 13th International Conference on Pattern Recognition Systems (ICPRS)
Veranstaltung 13th IEEE International Conference on Pattern Recognition and Machine Learning (2023), Guayaquil, Ecuador, 04.07.2023 – 07.07.2023
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 1–7
Vorab online veröffentlicht am 18.07.2023
Nachgewiesen in Dimensions
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