Innovative In-situ Workflow for Battery Sample Analysis using AFM-in-SEM
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsdatum | 01.08.2023 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1435-8115, 1079-8501, 1431-9276 KITopen-ID: 1000161959 |
| HGF-Programm | 38.02.01 (POF IV, LK 01) Fundamentals and Materials |
| Erschienen in | Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada |
| Verlag | Cambridge University Press (CUP) |
| Band | 29 |
| Heft | Supplement_1 |
| Seiten | 1320 – 1321 |
| Vorab online veröffentlicht am | 22.07.2023 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |