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A Dual-Band Micromachined On-Wafer Probe with Integrated Diplexer for Ultra-Broadband Measurements to 220 GHz

Bauwens, Matthew F.; Scott Barker, N.; Boes, Florian 1; Cyberey, Michael E.; Weikle, Robert M.; Zwick, Thomas 1; Lichtenberger, Arthur W.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IMS37964.2023.10187983
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Zitationen: 4
Dimensions
Zitationen: 4
BibTeX (UTF-8) BibTeX (ASCII) EndNote/Refer (.enw) RIS CSL-JSON ISI
Zugehörige Institution(en) am KIT KIT-Bibliothek (BIB)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2023
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 979-83-503-4764-7
KITopen-ID: 1000162487
Erschienen in 2023 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium - IMS 2023
Veranstaltung 2023 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium - IMS 2023 (2023), San Diego, CA, USA, 11.06.2023 – 16.06.2023
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 728 – 731
Vorab online veröffentlicht am 28.07.2023
Nachgewiesen in Dimensions
OpenAlex
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Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung Ziel 7 – Bezahlbare und saubere Energie
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