A Learning-Based Approach for Single Event Transient Analysis in Pass Transistor Logic
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 03.07.2023 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-83-503-4135-5 KITopen-ID: 1000162601 |
| Erschienen in | 2023 IEEE 29th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), Crete, Greece, 03-05 July 2023 |
| Veranstaltung | IEEE 29th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2023), Crete, Greece, 03.07.2023 – 05.07.2023 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1–7 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |