Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2023 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 979-83-503-4135-5 KITopen-ID: 1000162676 |
Erschienen in | 2023 IEEE 29th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) |
Veranstaltung | 29th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (2023), Crete, Greece, 03.07.2023 – 05.07.2023 |
Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Seiten | 1–5 |
Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |