Multi-sensor data fusion using deep learning for bulky waste image classification
Bihler, Manuel
1; Roming, Lukas; Jiang, Yifan 1; Afifi, Ahmed J.
1; Aderhold, Jochen; Cibiraite-Lukenskiene, Dovile; Lorenz, Sandra; Gloaguen, Richard; Gruna, Robin; Heizmann, Michael 1; Beyerer, Jürgen [Hrsg.]; Heizmann, Michael [Hrsg.] 1
1 Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Roming, Lukas; Jiang, Yifan 1; Afifi, Ahmed J.
1; Aderhold, Jochen; Cibiraite-Lukenskiene, Dovile; Lorenz, Sandra; Gloaguen, Richard; Gruna, Robin; Heizmann, Michael 1; Beyerer, Jürgen [Hrsg.]; Heizmann, Michael [Hrsg.] 11 Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 11.08.2023 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5106-6456-2 ISSN: 0277-786X KITopen-ID: 1000163543 |
| Erschienen in | Proceedings Volum 12623 SPI Optical Metrology. Automated Visual Inspection and Machine Vision V. Hrsg.: J. Beyerer, M. Heizmann |
| Veranstaltung | SPIE Optical Metrology (2023), München, Deutschland, 26.06.2023 – 30.06.2023 |
| Verlag | SPIE |
| Seiten | 126230B |
| Serie | Proceedings ; 12623 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |