| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 11.08.2023 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5106-6456-2 ISSN: 0277-786X KITopen-ID: 1000163543 |
| Erschienen in | Proceedings Volum 12623 SPI Optical Metrology. Automated Visual Inspection and Machine Vision V. Hrsg.: J. Beyerer, M. Heizmann |
| Veranstaltung | SPIE Optical Metrology (2023), München, Deutschland, 26.06.2023 – 30.06.2023 |
| Verlag | SPIE |
| Seiten | 126230B |
| Serie | Proceedings ; 12623 |
| Nachgewiesen in | Dimensions OpenAlex Scopus |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |