X-ray diffraction at constant penetration depth – a viable approach for characterizing steep residual stress gradients
Erbacher, Thomas 1,2; Wanner, Alexander
1,3; Beck, Tilmann 1,2; Vöhringer, Otmar 1,2
1 Universität Karlsruhe (TH)
2 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1,3; Beck, Tilmann 1,2; Vöhringer, Otmar 1,21 Universität Karlsruhe (TH)
2 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Universität Karlsruhe (TH) (Univ. Karlsruhe) Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsdatum | 01.04.2008 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0021-8898 KITopen-ID: 1000163545 |
| Erschienen in | Journal of Applied Crystallography |
| Verlag | International Union of Crystallography |
| Band | 41 |
| Heft | 2 |
| Seiten | 377–385 |
| Vorab online veröffentlicht am | 08.03.2008 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |