Insecurity of an IBEET Scheme and an ABEET Scheme

Liao, Yongjian ; Chen, Hongjie; Huang, Wen; Ramadan, Mohammed

¹; Pan, Hongtao; Zhou, Shijie
¹ Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Postprint

DOI: 10.5445/IR/1000163683

Veröffentlicht am 02.11.2023

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ACCESS.2019.2900752

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsdatum	07.03.2019
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 2169-3536 KITopen-ID: 1000163683
Erschienen in	IEEE Access
Verlag	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band	7
Seiten	25087–25094
Vorab online veröffentlicht am	21.02.2019
Nachgewiesen in	Scopus Web of Science Dimensions OpenAlex
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