A graph database for feature characterization of dislocation networks
Katzer, Balduin
1; Betsche, Daniel 2; Böhm, Klemens 2; Weygand, Daniel 1; Schulz, Katrin 1
1 Institut für Angewandte Materialien – Zuverlässigkeit und Mikrostruktur (IAM-ZM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Betsche, Daniel 2; Böhm, Klemens 2; Weygand, Daniel 1; Schulz, Katrin 11 Institut für Angewandte Materialien – Zuverlässigkeit und Mikrostruktur (IAM-ZM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Computational Materials Science (IAM-CMS) Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD) Institut für Angewandte Materialien – Zuverlässigkeit und Mikrostruktur (IAM-ZM) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 02.2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1359-6462 KITopen-ID: 1000163850 |
| Erschienen in | Scripta Materialia |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 240 |
| Seiten | Art.-Nr.: 115841 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Web of Science Scopus |