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A graph database for feature characterization of dislocation networks

Katzer, Balduin ORCID iD icon 1; Betsche, Daniel 2; Böhm, Klemens 2; Weygand, Daniel 1; Schulz, Katrin 1
1 Institut für Angewandte Materialien – Zuverlässigkeit und Mikrostruktur (IAM-ZM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Preprint §
DOI: 10.5445/IR/1000163850
Veröffentlicht am 06.11.2023
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.scriptamat.2023.115841
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Zitationen: 3
Web of Science
Zitationen: 2
Dimensions
Zitationen: 3
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Computational Materials Science (IAM-CMS)
Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD)
Institut für Angewandte Materialien – Zuverlässigkeit und Mikrostruktur (IAM-ZM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 02.2024
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1359-6462
KITopen-ID: 1000163850
Erschienen in Scripta Materialia
Verlag Elsevier
Band 240
Seiten Art.-Nr.: 115841
Nachgewiesen in Dimensions
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