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A Novel Concept for Identifying Critical Test Scenarios for the Validation of Automated Driving Functions

Kurz, Clemens ORCID iD icon 1; Knoch, Eva-Maria 1; Gauterin, Frank ORCID iD icon 1
1 Institut für Fahrzeugsystemtechnik (FAST), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IAVVC57316.2023.10328043
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Fahrzeugsystemtechnik (FAST)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 16.10.2023
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 979-83-503-2253-8
KITopen-ID: 1000165207
Erschienen in 2023 IEEE International Automated Vehicle Validation Conference (IAVVC)
Veranstaltung International Automated Vehicle Validation Conference (IAVVC 2023), Austin, TX, USA, 16.10.2023 – 18.10.2023
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 1–5
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