Reliability of different fabrication processes for window- and cross-type Nb/Al-AlO$x$/Nb Josephson junctions
Bauer, Fabienne 1; Zimmerer, Florian; Ferring, Anna; Wegner, Mathias
2; Kempf, Sebastian 1,2; Enss, Christian
1 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2; Kempf, Sebastian 1,2; Enss, Christian1 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS) Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
| Publikationstyp | Poster |
| Publikationsdatum | 12.03.2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000165221 |
| Veranstaltung | DPG-Frühjahrstagung der Sektion Kondensierte Materie gemeinsam mit der EPS (2018), Berlin, Deutschland, 11.03.2018 – 16.03.2018 |