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Exposure Simulation and Analysis using Downlink Beam Tracking of a Mobile User in City Scenario

Long, Xueyun 1; Pauli, Mario 1; Li, Yueheng ORCID iD icon 1; Fritz, Oliver 1; Zwick, Thomas 1
1 Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.23919/EuMC58039.2023.10290674
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 30.10.2023
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-2-87487-072-9
KITopen-ID: 1000165479
Erschienen in 2023 53rd European Microwave Conference (EuMC), Berlin, 19th-21st September 2023
Veranstaltung 53rd European Microwave Conference (EuMC 2023), Berlin, Deutschland, 19.09.2023 – 21.09.2023
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 259 – 262
Nachgewiesen in Dimensions
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