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Automatic Detection of Signs with Affine Transformation

Chen, Xilin; Yang, Jie; Zhang, Jing; Waibel, Alex


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ACV.2002.1182151
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Zitationen: 17
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Zitationen: 17
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-7695-1858-3
KITopen-ID: 1000166460
Erschienen in Proceedings of the 6th IEEE Workshop on Applications of Computer Vision, WACV 2002, Orlando, USA, 04 December 2002
Veranstaltung 6th IEEE Workshop on Applications of Computer Vision (2002), Orlando, FL, USA, 04.12.2002
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 32–36
Nachgewiesen in Scopus
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