Anwendung statistischer und dynamischer Verfahren zur Fehlermustererkennung und sicheren Reduktion von Chip- Testplänen
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 2006 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000166718 |
| Verlag | Universität Karlsruhe (TH) |
| Umfang | 119 S. |
| Art der Arbeit | Abschlussarbeit - Diplom |
| Referent/Betreuer | Waibel, A. Dillmann, R. |