Bridging Global and Local Features in Pattern Analysis : with Application to Car Manufacturers' Logo Recognition
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR) Institut für Theoretische Informatik (ITI) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 2006 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000166721 |
| Verlag | Universität Karlsruhe (TH) |
| Umfang | 64 S. |
| Art der Arbeit | Abschlussarbeit - Diplom |
| Referent/Betreuer | Waibel, Alex Stiefelhagen, Rainer Jie, Yang Chen, Datong |