Einsatz von Mustererkennungsverfahren zur Optimierung von Chip-Testplänen
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 2005 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000166865 |
| Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
| Umfang | 49 S. |
| Art der Arbeit | Studienarbeit |