Approach for Twinning with High Twinning Rates: Enabling the Use of Data-Driven Methods for Digital Twins in Product Validation
Leitenberger, Felix
1; Dörr, Matthias 1; Fleckner, Hannes 1; Gwosch, Thomas 1; Matthiesen, Sven 1
1 Institut für Produktentwicklung (IPEK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Dörr, Matthias 1; Fleckner, Hannes 1; Gwosch, Thomas 1; Matthiesen, Sven 11 Institut für Produktentwicklung (IPEK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktentwicklung (IPEK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2023 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000167466 |
| Erschienen in | NAFEMS World Congress 2023 |
| Veranstaltung | NAFEMS World Congress (NWC 2023), Tampa, FL, USA, 15.05.2023 – 18.05.2023 |