Comparison Between the Fault Current Limiting Performance of Bi-2212 Bifilar Components and 2G YBCO Coils
Sousa, W. T. B. de
1; Dias, R.; Silva, F. A. da; Polasek, A.; de Andrade, R.
1 Institut für Technische Physik (ITEP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Dias, R.; Silva, F. A. da; Polasek, A.; de Andrade, R.1 Institut für Technische Physik (ITEP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Physik (ITEP) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 06.2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1051-8223, 1558-2515 KITopen-ID: 1000168023 |
| Erschienen in | IEEE Transactions on Applied Superconductivity |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 23 |
| Heft | 3 |
| Seiten | Article no: 5602204 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |