Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2023 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 979-8-3503-4359-5 ISSN: 1089-3539 KITopen-ID: 1000168142 |
Erschienen in | 2023 IEEE International Test Conference (ITC), Anaheim, CA, 07th-15th October 2023 |
Veranstaltung | IEEE International Test Conference (ITC 2023), Anaheim, CA, USA, 07.10.2023 – 15.10.2023 |
Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Seiten | 367 – 376 |
Vorab online veröffentlicht am | 22.12.2023 |
Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |