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Enabling In-Field Parametric Testing for RISC-V Cores

Ghasemi, S. Maryam 1; Meschkov, Sergej 1; Krautter, Jonas ORCID iD icon 1; Gnad, Dennis R. E. 1; Tahoori, Mehdi B. 1
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ITC51656.2023.00054
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Zitationen: 3
Dimensions
Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2023
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 979-8-3503-4359-5
ISSN: 1089-3539
KITopen-ID: 1000168142
Erschienen in 2023 IEEE International Test Conference (ITC), Anaheim, CA, 07th-15th October 2023
Veranstaltung IEEE International Test Conference (ITC 2023), Anaheim, CA, USA, 07.10.2023 – 15.10.2023
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 367 – 376
Vorab online veröffentlicht am 22.12.2023
Nachgewiesen in Dimensions
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