Enabling In-Field Parametric Testing for RISC-V Cores
Ghasemi, S. Maryam 1; Meschkov, Sergej 1; Krautter, Jonas
1; Gnad, Dennis R. E. 1; Tahoori, Mehdi B. 1
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Gnad, Dennis R. E. 1; Tahoori, Mehdi B. 11 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2023 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-8-3503-4359-5 ISSN: 1089-3539 KITopen-ID: 1000168142 |
| Erschienen in | 2023 IEEE International Test Conference (ITC), Anaheim, CA, 07th-15th October 2023 |
| Veranstaltung | IEEE International Test Conference (ITC 2023), Anaheim, CA, USA, 07.10.2023 – 15.10.2023 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 367 – 376 |
| Vorab online veröffentlicht am | 22.12.2023 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |