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Field‐dependent abundances of hydride molecular ions in atom probe tomography of III‐N semiconductors

Diagne, Aissatou; Garcia, Luis Gonzalez; Ndiaye, Samba; Gogneau, Noëlle; Vrellou, Maria 1; Houard, Jonathan; Rigutti, Lorenzo
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1111/jmi.13233
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Werkstoff- und Grenzflächenmechanik (IAM-MMI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2024
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0022-2720, 1365-2818
KITopen-ID: 1000168313
HGF-Programm 31.13.05 (POF IV, LK 01) Neutron-Resistant Structural Materials
Erschienen in Journal of Microscopy
Verlag John Wiley and Sons
Band 293
Heft 3
Seiten 153-159
Vorab online veröffentlicht am 16.10.2023
Nachgewiesen in Scopus
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