Entanglement Genesis by Ancilla-Based Parity Measurement in 2D Circuit QED
Saira, O.-P.; Groen, J. P.; Cramer, J.; Meretska, M.
1; Lange, G. De; DiCarlo, L.
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Lange, G. De; DiCarlo, L.1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 02.2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0031-9007, 1079-7114 KITopen-ID: 1000168431 |
| Erschienen in | Physical Review Letters |
| Verlag | American Physical Society (APS) |
| Band | 112 |
| Heft | 7 |
| Seiten | Art.-Nr.: 070502 |
| Vorab online veröffentlicht am | 20.02.2014 |
| Nachgewiesen in | Scopus Web of Science Dimensions |