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Radiation behaviour of mm‐wave on‐wafer probes in H‐band and the influence on antenna measurements

Hebeler, Joachim ORCID iD icon 1; Zwick, Thomas 1; Bhutani, Akanksha ORCID iD icon 1
1 Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000168531
Veröffentlicht am 19.02.2024
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 02.2024
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0013-5194, 1350-911X
KITopen-ID: 1000168531
Erschienen in Electronics Letters
Verlag Institution of Engineering and Technology (IET)
Band 60
Heft 3
Seiten Art.-Nr.: e13116
Bemerkung zur Veröffentlichung Gefördert durch den KIT-Publikationsfonds
Vorab online veröffentlicht am 07.02.2024
Nachgewiesen in Scopus
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